FIBSEM
TTY-säätiö (Tampereen teknillinen yliopisto)
A research system combining field emission scanning electron microcope (FE-SEM) and focused ion beam (FIB) materials processing unit for preparation of samples and processing and analysis of nanostructures and various materials.
The customer will submit few samples for demonstration of the capabilities of the offered instrument. The customer will visit on-site to evaluate user experience of the proposed instrument. More information is available in the Invitation of Tender documents available from tapio.k.niemi@tut.fi.
Tarjousten vastaanottamisen määräaika oli 2014-05-16. Hankinta julkaistiin 2014-03-31.
Kuka? Mitä? Missä?- • Länsi-Suomi › Pirkanmaa
Hankintojen historia
| Päivämäärä | Asiakirja |
|---|---|
| 2014-03-31 | hankintailmoitus |
hankintailmoitus (2014-03-31)
Kohde
Hankinnan laajuus
Otsikko: Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja)
Määrä tai laajuus:
Ilmoituksen metatiedot
Alkukieli: englanti 🗣️
Asiakirjatyyppi: hankintailmoitus
Sopimuksen luonne: Tavarat
Asetus: Ei määritelty
Yhteinen hankintanimikkeistö (CPV)
Koodi: Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja) 📦
Menettely
Menettelyn tyyppi: Avoin menettely
Tarjouksen tyyppi: Tarjous koskee kaikkia eriä
Myöntämisperusteet
Kokonaistaloudellisesti edullisin tarjous
Hankintaviranomainen
Tunnistetiedot
Maa: Suomi 🇫🇮
Hankintaviranomaisen tyyppi: Muu
Hankintaviranomaisen nimi: TTY-säätiö (Tampereen teknillinen yliopisto)
Postiosoite: Korkeakoulunkatu 10, PL 527
Postinumero: 33101
Postitoimipaikka: Tampere
Yhteystiedot
Internetosoite: http://www.tut.fi 🌏
Sähköposti: tapio.k.niemi@tut.fi 📧
Viite
Päivämäärät
Lähetyspäivä: 2014-03-31 📅
Tarjousten jättämisen määräaika: 2014-05-16 📅
Julkaisupäivä: 2014-04-04 📅
Tunnisteet
Ilmoituksen numero: 2014/S 067-114542
EUVL-S-numero: 67
Lisätietoja
Kohde
Hankinnan laajuus
Lyhyt kuvaus:
Vaihtoehdot hyväksytään ✅
Määrä tai laajuus:
Vaihtoehtojen kuvaus:
Viitenumero: TTY/342/251/2014
Suorituspaikka
Pääkohde tai suorituspaikka: Tampere.
Menettely
Tarjouksen voimassaoloaika: 2014-08-31 📅
Kielet
Kieli: englanti 🗣️
suomi 🗣️
Hankintaviranomainen
Tunnistetiedot
Muu hankintaviranomaisen tyyppi: Other
Yhteystiedot
Yhteyspiste: TUT-Foundation
Tapio Niemi
Internetosoite: www.tut.fi 🌏
Nimi: TUT Foundation (Tampere University of Technology)
Postiosoite: P.O.Box 692
Yhteyspiste: Optoelectronics Research Centre
Anne Viherkoski
Viite
Tunnisteet
Hankintaviranomaisen antama viitenumero: TTY/342/251/2014
Lisätietoja
Täydentävät tiedot
Arvostelurunko
Nimi: Markkinaoikeus
Postiosoite: Radanrakentajantie 5
Postitoimipaikka: Helsinki
Postinumero: 00520
Maa: Suomi 🇫🇮
Sähköposti: markkinaoikeus@oikeus.fi 📧
Puhelin: +358 295643300 📞
Internetosoite: http://www.oikeus.fi/markkinaoikeus 🌏
Faksi: +358 295643314 📠
Lähde: OJS 2014/S 067-114542 (2014-03-31)
Kohde
Hankinnan laajuus
Otsikko: Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja)
Määrä tai laajuus:
The system must combine field emission scanning electron microscope (FE-SEM) and focused ion beam (FIB) columns.— It must be supplied complete with pumps and controllers including computers and software.— It should be clear from the specifications which software is necessary to run the instrument and which provides additional functionality.— Primary interest is on good base instrument (FIBSEM) but also various additional characterization equipment can be considered.— The specifications should also include description of integration of the optional equipment.— The optional equipment can be offered as a part of the instrument. Base instrument without options can also be quoted.More information is available in the Invitation of Tender documents available from tapio.k.niemi@tut.fi.
Näytä lisää
Alkukieli: englanti 🗣️
Asiakirjatyyppi: hankintailmoitus
Sopimuksen luonne: Tavarat
Asetus: Ei määritelty
Yhteinen hankintanimikkeistö (CPV)
Koodi: Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja) 📦
Menettely
Menettelyn tyyppi: Avoin menettely
Tarjouksen tyyppi: Tarjous koskee kaikkia eriä
Myöntämisperusteet
Kokonaistaloudellisesti edullisin tarjous
Hankintaviranomainen
Tunnistetiedot
Maa: Suomi 🇫🇮
Hankintaviranomaisen tyyppi: Muu
Hankintaviranomaisen nimi: TTY-säätiö (Tampereen teknillinen yliopisto)
Postiosoite: Korkeakoulunkatu 10, PL 527
Postinumero: 33101
Postitoimipaikka: Tampere
Yhteystiedot
Internetosoite: http://www.tut.fi 🌏
Sähköposti: tapio.k.niemi@tut.fi 📧
Viite
Päivämäärät
Lähetyspäivä: 2014-03-31 📅
Tarjousten jättämisen määräaika: 2014-05-16 📅
Julkaisupäivä: 2014-04-04 📅
Tunnisteet
Ilmoituksen numero: 2014/S 067-114542
EUVL-S-numero: 67
Lisätietoja
More information is available in the Invitation of Tender documents available from Tapio.K.Niemi@tut.fi
The customer will submit few samples for demonstration of the capabilities of the offered instrument. Tenderers must send an address, where the samples will be delivered, by 11.4.2014 to Tapio Niemi, tapio.k.niemi@tut.fi. The samples will be delivered as soon as possible after the address has been received. Preliminary measurement results should be attached to the tender.
Queries concerning the invitation to tender may be sent to Tapio Niemi, tapio.k.niemi@tut.fi. Queries must be sent via e-mail by 22.4.2014 at latest. Answers will be submitted to all tenderers by 30.4.2014. All tenderers must send an email address, to which the answers will be submitted, to Tapio Niemi, tapio.k.niemi@tut.fi, by 22.4.2014.
Binding tenders must be submitted in a sealed envelope on 16.5.2014 at 16:00 at the latest.
Address:
TUT Foundation (Tampere University of Technology)
Optoelectronics Research Centre
Anne Viherkoski
P.O. Box 692
FI-33101 Tampere, Finland
The following text must be written on the envelope: ‘Tender/FIBSEM’.
Näytä lisää
Kohde
Hankinnan laajuus
Lyhyt kuvaus:
A research system combining field emission scanning electron microcope (FE-SEM) and focused ion beam (FIB) materials processing unit for preparation of samples and processing and analysis of nanostructures and various materials.
The customer will submit few samples for demonstration of the capabilities of the offered instrument. The customer will visit on-site to evaluate user experience of the proposed instrument. More information is available in the Invitation of Tender documents available from tapio.k.niemi@tut.fi.
Näytä lisää
Määrä tai laajuus:
The system must combine field emission scanning electron microscope (FE-SEM) and focused ion beam (FIB) columns.
— It must be supplied complete with pumps and controllers including computers and software.
— It should be clear from the specifications which software is necessary to run the instrument and which provides additional functionality.
— Primary interest is on good base instrument (FIBSEM) but also various additional characterization equipment can be considered.
— The specifications should also include description of integration of the optional equipment.
— The optional equipment can be offered as a part of the instrument. Base instrument without options can also be quoted.
More information is available in the Invitation of Tender documents available from tapio.k.niemi@tut.fi.
Following options are considered to be included in the base instrument (FIBSEM). These can be offered as a part of the instrument.
— EDS detecting system together with 3D analyzing capability (accessories + software).
— Transfer system to protect reactive samples during loading/unloading.
— Nanomanipulators for performing sample moving and electrical characterization in-situ.
— Spectrally resolved cathodoluminescence equipment.
— EBSD detecting system together with 3D analyzing capability.
More information is available in the Invitation of Tender documents available from tapio.k.niemi@tut.fi.
Suorituspaikka
Pääkohde tai suorituspaikka: Tampere.
Menettely
Tarjouksen voimassaoloaika: 2014-08-31 📅
Kielet
Kieli: englanti 🗣️
suomi 🗣️
Hankintaviranomainen
Tunnistetiedot
Muu hankintaviranomaisen tyyppi: Other
Yhteystiedot
Yhteyspiste: TUT-Foundation
Tapio Niemi
Internetosoite: www.tut.fi 🌏
Nimi: TUT Foundation (Tampere University of Technology)
Postiosoite: P.O.Box 692
Yhteyspiste: Optoelectronics Research Centre
Anne Viherkoski
Viite
Tunnisteet
Hankintaviranomaisen antama viitenumero: TTY/342/251/2014
Lisätietoja
More information is available in the Invitation of Tender documents available from Tapio.K.Niemi@tut.fi
The customer will submit few samples for demonstration of the capabilities of the offered instrument. Tenderers must send an address, where the samples will be delivered, by 11.4.2014 to Tapio Niemi, tapio.k.niemi@tut.fi. The samples will be delivered as soon as possible after the address has been received. Preliminary measurement results should be attached to the tender.
Näytä lisää
Queries concerning the invitation to tender may be sent to Tapio Niemi, tapio.k.niemi@tut.fi. Queries must be sent via e-mail by 22.4.2014 at latest. Answers will be submitted to all tenderers by 30.4.2014. All tenderers must send an email address, to which the answers will be submitted, to Tapio Niemi, tapio.k.niemi@tut.fi, by 22.4.2014.
Näytä lisää
Binding tenders must be submitted in a sealed envelope on 16.5.2014 at 16:00 at the latest.
Address:
TUT Foundation (Tampere University of Technology)
Optoelectronics Research Centre
Anne Viherkoski
P.O. Box 692
FI-33101 Tampere, Finland
The following text must be written on the envelope: ‘Tender/FIBSEM’.
Täydentävät tiedot
Arvostelurunko
Nimi: Markkinaoikeus
Postiosoite: Radanrakentajantie 5
Postitoimipaikka: Helsinki
Postinumero: 00520
Maa: Suomi 🇫🇮
Sähköposti: markkinaoikeus@oikeus.fi 📧
Puhelin: +358 295643300 📞
Internetosoite: http://www.oikeus.fi/markkinaoikeus 🌏
Faksi: +358 295643314 📠
Lähde: OJS 2014/S 067-114542 (2014-03-31)
Uudet hankinnat asiaan liittyvissä luokissa 🆕
- Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja) (>20 uudet hankinnat)
- Ajanrekisteröintilaitteet ja vastaavat mittarit; pysäköintimittarit
- Erilaiset arviointi- ja testausvälineet
- Fysikaalisten ominaisuuksien mittausvälineet (6)
- Geologiassa ja geofysiikassa käytettävät välineet
- Mittalaitteet (1)
- Navigoinnissa ja meteorologiassa käytettävät välineet (1)
- Optiset instrumentit (1)
- Teollisuuden prosessinohjauslaitteet ja kauko-ohjauslaitteet
- Testaus- ja koelaitteet (1)