Automatic Electro-Optical Wafer Level Prober (EO-WLT)
The Automatic Electro-Optical Wafer Level Tests System (hereinafter EO-WLT) is a fully automatic 200mm probing system. Cassette loading with robotic wafer handling system, pre-aligner and vacuum end effector. EO-WLT system shall be configured to work with a combination of DC and RF probe-cards as well as with VTT-designed optical probes.
The procurement is described in detail in the call for tenders documents.
Määräaika
Tarjousten vastaanottamisen määräaika oli 2016-09-20.
Hankinta julkaistiin 2016-08-04.
Toimittajat
Seuraavat toimittajat mainitaan hankintapäätöksissä tai muissa hankinta-asiakirjoissa:
Kuka?
Mitä?
Missä?
Hankintojen historia
| Päivämäärä |
Asiakirja |
| 2016-08-04
|
hankintailmoitus
|
| 2016-11-10
|
Ilmoitus tehdystä sopimuksesta
|