Thermal field emission scanning electron microscope
VTT requests a quotation in accordance with this invitation to tender from the thermal field emission scanning electron microscope. The main applications of the system will be failure research, investigation on microstrucures (especially grain boudaries), oxide layers, coatings and nano particles.
Määräaika
Tarjousten vastaanottamisen määräaika oli 2012-06-04.
Hankinta julkaistiin 2012-04-17.
Toimittajat
Seuraavat toimittajat mainitaan hankintapäätöksissä tai muissa hankinta-asiakirjoissa:
Kuka?
Mitä?
Missä?
Hankintojen historia
| Päivämäärä |
Asiakirja |
| 2012-04-17
|
hankintailmoitus
|
| 2012-11-27
|
Ilmoitus tehdystä sopimuksesta
|