Toimittaja: Kratos Analytical Ltd.
Yksi arkistoitu hankinta
Viimeaikaiset hankinnat, joissa toimittaja on mainittu Kratos Analytical Ltd.
2012-06-05
Korkean resoluution XPS laitteisto pehmeille materiaaleille (Aalto-korkeakoulusäätiö)
Selluloosapintojen pinta-analyysiin soveltuva röntgenfotoelektronispektrometri (XPS), varustettuna monokromaattorilla, mikrometriluokan XPS-kuvannuksella ja mahdollisuudella analysoida esijäädytettyjä näytteitä niin että ne pysyvät jäätyneinä mittaukseen saakka. Näytä hankinnat »
Selluloosapintojen pinta-analyysiin soveltuva röntgenfotoelektronispektrometri (XPS), varustettuna monokromaattorilla, mikrometriluokan XPS-kuvannuksella ja mahdollisuudella analysoida esijäädytettyjä näytteitä niin että ne pysyvät jäätyneinä mittaukseen saakka. Näytä hankinnat »