Focussed ion beam system
A high-resolution dual-beam field-emission focussed ion beam (FIB) system. For further information, see separate documents (as attachment files at the Hanki / Tarjouspalvelu Service at
https://www.hankipalvelu.fi/en/).
Määräaika
Tarjousten vastaanottamisen määräaika oli 2018-03-02.
Hankinta julkaistiin 2018-01-29.
Toimittajat
Seuraavat toimittajat mainitaan hankintapäätöksissä tai muissa hankinta-asiakirjoissa:
Kuka?
Mitä?
Missä?
Hankintojen historia
| Päivämäärä |
Asiakirja |
| 2018-01-29
|
hankintailmoitus
|
| 2018-04-16
|
Ilmoitus tehdystä sopimuksesta
|