Korkean resoluution XPS laitteisto pehmeille materiaaleille
Selluloosapintojen pinta-analyysiin soveltuva röntgenfotoelektronispektrometri (XPS), varustettuna monokromaattorilla, mikrometriluokan XPS-kuvannuksella ja mahdollisuudella analysoida esijäädytettyjä näytteitä niin että ne pysyvät jäätyneinä mittaukseen saakka.
Määräaika
Tarjousten vastaanottamisen määräaika oli 2012-08-31.
Hankinta julkaistiin 2012-06-05.
Toimittajat
Seuraavat toimittajat mainitaan hankintapäätöksissä tai muissa hankinta-asiakirjoissa:
Kuka?
Mitä?
Hankintojen historia
| Päivämäärä |
Asiakirja |
| 2012-06-05
|
hankintailmoitus
|
| 2012-11-14
|
Ilmoitus tehdystä sopimuksesta
|