Low temperature scanning tunneling microscope/atomic force microscope
We are seeking a complete turn-key, stand-alone, low-temperature scanning probe microscope for simultaneous scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy experiments, including sample preparation facilities for research and scientific experiments.
Määräaika
Tarjousten vastaanottamisen määräaika oli 2011-05-31.
Hankinta julkaistiin 2011-04-15.
Kuka?
Mitä?
Hankintojen historia
| Päivämäärä |
Asiakirja |
| 2011-04-15
|
hankintailmoitus
|